產品資料
多檢測型納米粒度測量儀系統
產品名稱: 多檢測型納米粒度測量儀系統
產品型號: nanoSAQLA
產品特點: 多檢測型納米粒度測量儀系統● 1臺便可實再5個樣品的連續測量實現了在沒有自動取樣器的情況下難以連續測量的多個樣品可以改變每個樣品的條件進行測量● 可以對應從稀薄到濃厚的樣品● 標準測量時間1分的高度測量
多檢測型納米粒度測量儀系統 的詳細介紹
多檢測型納米粒度測量儀系統
多檢測型納米粒度測量儀系統
實現了在沒有自動取樣器的情況下難以連續測量的多個樣品
可以改變每個樣品的條件進行測量
● 可以對應從稀薄到濃厚的樣品
● 標準測量時間1分的高度測量
自動調整從濃厚系到稀薄系樣品的最佳測量位置，實現約1分鐘的高速測量
● 配備簡單測量功能(點擊一鍵即可開始測量)
沒有任何復雜的操作，簡單易懂的軟件
● 因為每個樣品槽都是獨立的，沒有接觸污染的風險。
● 搭載溫度梯度功能
測量范圍（理論值）
● 粒徑0.6nm～10μm
● 濃度范圍 0.00001～40％
● 溫度范圍0～90℃*
實現了在沒有自動取樣器的情況下難以連續測量的多個樣品
可以改變每個樣品的條件進行測量
● 可以對應從稀薄到濃厚的樣品
● 標準測量時間1分的高度測量
自動調整從濃厚系到稀薄系樣品的最佳測量位置，實現約1分鐘的高速測量
● 配備簡單測量功能(點擊一鍵即可開始測量)
沒有任何復雜的操作，簡單易懂的軟件
● 因為每個樣品槽都是獨立的，沒有接觸污染的風險。
● 搭載溫度梯度功能
測量范圍（理論值）
● 粒徑0.6nm～10μm
● 濃度范圍 0.00001～40％
● 溫度范圍0～90℃*
實現了在沒有自動取樣器的情況下難以連續測量的多個樣品
可以改變每個樣品的條件進行測量
● 可以對應從稀薄到濃厚的樣品
● 標準測量時間1分的高度測量
自動調整從濃厚系到稀薄系樣品的最佳測量位置，實現約1分鐘的高速測量
● 配備簡單測量功能(點擊一鍵即可開始測量)
沒有任何復雜的操作，簡單易懂的軟件
● 因為每個樣品槽都是獨立的，沒有接觸污染的風險。
● 搭載溫度梯度功能
測量范圍（理論值）
● 粒徑0.6nm～10μm
● 濃度范圍 0.00001～40％
● 溫度范圍0～90℃*
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