用于Au Cr薄膜電鍍電解式膜厚測(cè)厚儀

產(chǎn)品名稱: 用于Au Cr薄膜電鍍電解式膜厚測(cè)厚儀

產(chǎn)品型號(hào): CT-3型

產(chǎn)品特點(diǎn): 用于Au Cr薄膜電鍍電解式膜厚測(cè)厚儀
CT-3型電解式膜厚計(jì)是一款輕量化高精度的設(shè)備，它基于庫侖法原理，通過電解溶解鍍層的電量與時(shí)間計(jì)算厚度，主要適用于生產(chǎn)現(xiàn)場的快速檢測(cè)以及中小型企業(yè)的質(zhì)檢需求。CT-3型膜厚計(jì)具有以下特點(diǎn)：
輕巧緊湊的機(jī)身：主體的重量為3.0千克，非常緊湊，便于攜帶和使用。
增加高靈敏度范圍：可以將靈敏度設(shè)置為高于以前的模型，并可以提高測(cè)量的穩(wěn)定性。
廣泛的校準(zhǔn)范圍：標(biāo)準(zhǔn)板的

用于Au Cr薄膜電鍍電解式膜厚測(cè)厚儀 的詳細(xì)介紹

用于Au Cr薄膜電鍍電解式膜厚測(cè)厚儀

CT-3型電解式膜厚計(jì)是一款輕量化高精度的設(shè)備，它基于庫侖法原理，通過電解溶解鍍層的電量與時(shí)間計(jì)算厚度，主要適用于生產(chǎn)現(xiàn)場的快速檢測(cè)以及中小型企業(yè)的質(zhì)檢需求。CT-3型膜厚計(jì)具有以下特點(diǎn)：

輕巧緊湊的機(jī)身：主體的重量為3.0千克，非常緊湊，便于攜帶和使用。
增加高靈敏度范圍：可以將靈敏度設(shè)置為高于以前的模型，并可以提高測(cè)量的穩(wěn)定性。
廣泛的校準(zhǔn)范圍：標(biāo)準(zhǔn)板的校準(zhǔn)范圍為±15％，確保測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性。
1/100范圍：也可以用于Au，Cr等的薄膜電鍍的1/100范圍（以0.001μm為單位進(jìn)行測(cè)量）。
墊片范圍的3種類型是標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備：可以使用三種類型的墊片，分別為3.4φ，2.4φ和1.7φ，以適配不同尺寸工件，可檢測(cè)非導(dǎo)電性基材上的鍍層。
配備主動(dòng)功能：主動(dòng)功能可去除一些氧化物，從而減少氧化物測(cè)量失敗。
簡易范圍設(shè)定：由于所有設(shè)置都是通過撥盤進(jìn)行的，因此可以輕松進(jìn)行待測(cè)鍍層的佳設(shè)置。

CT-3型膜厚計(jì)的測(cè)量范圍為0.006~300μm，最小分解能可達(dá)0.001μm，能夠測(cè)量極薄的鍍層。這款設(shè)備特別擅長超薄層（<1μm）與厚鍍層（≤300μm）的檢測(cè)，尤其適配1μm以下薄鍍層測(cè)量需求，適合電子元器件行業(yè)、精密零部件行業(yè)以及通用制造業(yè)的常規(guī)鍍層檢測(cè)。

輕巧緊湊的機(jī)身：主體的重量為3.0千克，非常緊湊，便于攜帶和使用。
增加高靈敏度范圍：可以將靈敏度設(shè)置為高于以前的模型，并可以提高測(cè)量的穩(wěn)定性。
廣泛的校準(zhǔn)范圍：標(biāo)準(zhǔn)板的校準(zhǔn)范圍為±15％，確保測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性。
1/100范圍：也可以用于Au，Cr等的薄膜電鍍的1/100范圍（以0.001μm為單位進(jìn)行測(cè)量）。
墊片范圍的3種類型是標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備：可以使用三種類型的墊片，分別為3.4φ，2.4φ和1.7φ，以適配不同尺寸工件，可檢測(cè)非導(dǎo)電性基材上的鍍層。
配備主動(dòng)功能：主動(dòng)功能可去除一些氧化物，從而減少氧化物測(cè)量失敗。
簡易范圍設(shè)定：由于所有設(shè)置都是通過撥盤進(jìn)行的，因此可以輕松進(jìn)行待測(cè)鍍層的佳設(shè)置。