便攜性電子元器件密度磁通計(jì)測(cè)量特斯拉計(jì)

產(chǎn)品名稱: 便攜性電子元器件密度磁通計(jì)測(cè)量特斯拉計(jì)

產(chǎn)品型號(hào): HGM3-4000

產(chǎn)品特點(diǎn): 便攜性電子元器件密度磁通計(jì)測(cè)量特斯拉計(jì)
HGM3-4000 是一款面向科研與精密工業(yè)場(chǎng)景的高穩(wěn)定性磁通密度（特斯拉）計(jì)，核心特點(diǎn)與典型應(yīng)用如下。
1. 核心指標(biāo)
測(cè)量范圍：20 mT、200 mT、2 T、20 T 四檔量程，最小分辨率 0.01 mT
測(cè)量精度：±0.5 % 滿量程
頻率范圍：DC～1 kHz（連續(xù)），可滿足直流與高頻交流磁場(chǎng)測(cè)試
輸出接口：±5 V/滿量程模擬輸出，可直接接入

便攜性電子元器件密度磁通計(jì)測(cè)量特斯拉計(jì) 的詳細(xì)介紹

便攜性電子元器件密度磁通計(jì)測(cè)量特斯拉計(jì)

HGM3-4000 是一款面向科研與精密工業(yè)場(chǎng)景的高穩(wěn)定性磁通密度（特斯拉）計(jì)，核心特點(diǎn)與典型應(yīng)用如下。

1. 核心指標(biāo)

測(cè)量范圍：20 mT、200 mT、2 T、20 T 四檔量程，最小分辨率 0.01 mT
測(cè)量精度：±0.5 % 滿量程
頻率范圍：DC～1 kHz（連續(xù)），可滿足直流與高頻交流磁場(chǎng)測(cè)試
輸出接口：±5 V/滿量程模擬輸出，可直接接入 PC 做波形記錄與分布繪圖
噪聲控制：新電路結(jié)構(gòu)專門優(yōu)化紋波，適合對(duì)低噪聲、高穩(wěn)定性要求高的場(chǎng)合

2. 主要優(yōu)勢(shì)

超低漂移：采用恒流驅(qū)動(dòng)霍爾元件+同步檢測(cè)技術(shù)，零漂極小，在 mT 級(jí)甚至更低磁場(chǎng)仍可長(zhǎng)時(shí)間保持讀數(shù)穩(wěn)定
PC 聯(lián)機(jī)分析：通過 ±5 V 模擬口或外接采集卡，可把磁場(chǎng)分布可視化，用于磁路設(shè)計(jì)驗(yàn)證或均勻性評(píng)估
寬頻響應(yīng)：DC-1 kHz 的帶寬覆蓋電機(jī)、電磁閥、無(wú)線充電線圈等大部分工業(yè)頻率，可替代昂貴鎖相方案做動(dòng)態(tài)磁場(chǎng)監(jiān)測(cè)
結(jié)構(gòu)兼容：與 magnix 全線軸向/扁平/微傳感器探頭通用，可測(cè)狹窄間隙或芯片級(jí)微磁場(chǎng)；若需要三維分布，可選配 3 通道型號(hào) HGM-8900

HGM3-4000 是一款面向科研與精密工業(yè)場(chǎng)景的高穩(wěn)定性磁通密度（特斯拉）計(jì)，核心特點(diǎn)與典型應(yīng)用如下。

1. 核心指標(biāo)

測(cè)量范圍：20 mT、200 mT、2 T、20 T 四檔量程，最小分辨率 0.01 mT
測(cè)量精度：±0.5 % 滿量程
頻率范圍：DC～1 kHz（連續(xù)），可滿足直流與高頻交流磁場(chǎng)測(cè)試
輸出接口：±5 V/滿量程模擬輸出，可直接接入 PC 做波形記錄與分布繪圖
噪聲控制：新電路結(jié)構(gòu)專門優(yōu)化紋波，適合對(duì)低噪聲、高穩(wěn)定性要求高的場(chǎng)合

2. 主要優(yōu)勢(shì)

超低漂移：采用恒流驅(qū)動(dòng)霍爾元件+同步檢測(cè)技術(shù)，零漂極小，在 mT 級(jí)甚至更低磁場(chǎng)仍可長(zhǎng)時(shí)間保持讀數(shù)穩(wěn)定
PC 聯(lián)機(jī)分析：通過 ±5 V 模擬口或外接采集卡，可把磁場(chǎng)分布可視化，用于磁路設(shè)計(jì)驗(yàn)證或均勻性評(píng)估
寬頻響應(yīng)：DC-1 kHz 的帶寬覆蓋電機(jī)、電磁閥、無(wú)線充電線圈等大部分工業(yè)頻率，可替代昂貴鎖相方案做動(dòng)態(tài)磁場(chǎng)監(jiān)測(cè)
結(jié)構(gòu)兼容：與 magnix 全線軸向/扁平/微傳感器探頭通用，可測(cè)狹窄間隙或芯片級(jí)微磁場(chǎng)；若需要三維分布，可選配 3 通道型號(hào) HGM-8900

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